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1、項(xiàng)目計(jì)劃,《系統(tǒng)測試計(jì)劃》
機(jī)構(gòu)圖標(biāo)
{ 項(xiàng)目名稱 }
系統(tǒng)測試計(jì)劃
文件狀態(tài):
[√] 草稿
[ ] 正式發(fā)布
[ ] 正在修改
文件標(biāo)識(shí):
Company-Project-IT-PLAN
當(dāng)前版本:
X.Y
作 者:
完成日期:
Year-Month-Day
機(jī)構(gòu)公開信息
版 本 歷 史
版本/狀態(tài)
作者
參與者
起止日期
備注
目 錄
1. 測試范圍與主要內(nèi)容 4
2. 測試方法
2、4
3. 測試環(huán)境與測試輔助工具 4
4. 測試完成準(zhǔn)則 4
5. 人員與任務(wù)表 4
6. 缺陷管理與改錯(cuò)計(jì)劃 4
附錄. 本計(jì)劃審批意見 5
1. 測試范圍與主要內(nèi)容
提示:系統(tǒng)測試小組應(yīng)當(dāng)根據(jù)項(xiàng)目的特征確定測試范圍與內(nèi)容。一般地,系統(tǒng)測試的主要內(nèi)容包括功能測試、健壯性測試、性能測試、用戶界面測試、安全性(security)測試、安裝與反安裝測試等。
2. 測試方法
提示:例如黑盒測試和白盒測試。
3. 測試環(huán)境與測試輔助工具
測試環(huán)境
測試輔助工具
4. 測試完成準(zhǔn)則
提示:
對于非嚴(yán)格系統(tǒng)可以采用“基于測試用例”的準(zhǔn)則:
(1)功能性測試用例通過率達(dá)到100%;
(2)非功能性測試用例通過率達(dá)到95%時(shí)。
對于嚴(yán)格系統(tǒng),應(yīng)當(dāng)補(bǔ)充“基于缺陷密度”的規(guī)則:
(3)相鄰n個(gè)CPU小時(shí)內(nèi)“測試期缺陷密度”全部低于某個(gè)值m。例如n大于10,m小于等于1。
5. 人員與任務(wù)表
人員
角色
職責(zé)、任務(wù)
時(shí)間
6. 缺陷管理與改錯(cuò)計(jì)劃
提示:根據(jù)所采用的缺陷管理工具確定:(1)缺陷管理流程,(2)改錯(cuò)流程。
附錄. 本計(jì)劃審批意見
項(xiàng)目經(jīng)理審批意見:
簽字
日期
ó 機(jī)構(gòu)名稱,2002
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