電化學(xué)阻抗譜.pptx

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1、郭惠霞,電化學(xué)阻抗譜及其應(yīng)用,Oliver Heaviside首次將拉普拉斯變換方法應(yīng)用到電子電路的瞬態(tài)響應(yīng),由此開創(chuàng)了阻抗譜的應(yīng)用先河。The Electrician(1872年) O. Heaviside, Electrical Papers, volume 1 (New York: MacMillan, 1894). O. Heaviside, Electrical Papers, volume 2 (New York: MacMillan, 1894). 概念:電感(inductance), 電容(capacitance), 阻抗( impedance),并應(yīng)用到電子電路中。,一、電化

2、學(xué)阻抗譜發(fā)展史,介電性能,生物體系,陽極溶解,腐蝕,混合導(dǎo)體,非均勻表面,電橋 機(jī)械發(fā)生器,電橋 電子發(fā)生器,脈沖法 示波器 拉普拉斯變換,模擬阻抗測(cè)定 恒電位儀 (AC+DC),數(shù)字阻抗測(cè)定 電橋 機(jī)械發(fā)生器,局部電化學(xué) 阻抗譜,R-C,電子等效 電路,Nyquist圖,Bode圖,校正Bode圖,6,電化學(xué)阻抗譜(Electrochemical Impedance Spectroscopy,EIS) 給電化學(xué)系統(tǒng)施加一個(gè)頻率不同的小振幅的交流正弦電勢(shì)波,測(cè)量交流電勢(shì)與電流信號(hào)的比值(系統(tǒng)的阻抗)隨正弦波頻率的變化,或者是阻抗的相位角隨的變化。,分析電極過程動(dòng)力學(xué)、雙電層和擴(kuò)散等,研究電極材

3、料、固體電解質(zhì)、導(dǎo)電高分子以及腐蝕防護(hù)機(jī)理等。,可以獲得的數(shù)據(jù):,給黑箱(電化學(xué)系統(tǒng)M)輸入一個(gè)擾動(dòng)函數(shù)X,它就會(huì)輸出一個(gè)響應(yīng)信號(hào)Y。用來描述擾動(dòng)與響應(yīng)之間關(guān)系的函數(shù),稱為傳輸函數(shù)G()。若系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)是線性的穩(wěn)定結(jié)構(gòu),則輸出信號(hào)就是擾動(dòng)信號(hào)的線性函數(shù)。,X,Y,G,G = Y / X,二、電化學(xué)阻抗譜基礎(chǔ),9,如果X為角頻率為的正弦波電勢(shì)信號(hào),則Y即為角頻率也 為的正弦電流信號(hào),此時(shí),頻響函數(shù)G()就稱之為系統(tǒng) 的導(dǎo)納(admittance), 用Y表示。,阻抗和導(dǎo)納統(tǒng)稱為阻納(immittance), 用G表示。阻抗和 導(dǎo)納互為倒數(shù)關(guān)系,Z=1/Y。,如果X為角頻率為的正弦波電流信號(hào),則

4、Y即為角頻率也 為的正弦電勢(shì)信號(hào),此時(shí),傳輸函數(shù)G()也是頻率的函 數(shù),稱為頻響函數(shù),這個(gè)頻響函數(shù)就稱之為系統(tǒng)的阻抗 (impedance), 用Z表示。,Y/X=G(),10,EIS技術(shù)就是測(cè)定不同頻率 (f)的擾動(dòng)信號(hào)X和響應(yīng)信號(hào) Y 的比值,得到不同頻率下阻抗的實(shí)部Z、虛部Z、模值|Z|和相位角,然后將這些量繪制成各種形式的曲線,就得到EIS抗譜。,Nyqusit圖,Bode圖,11,由于采用小幅度的正弦電勢(shì)信號(hào)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行微擾,電極上交替出現(xiàn)陽極和陰極過程,二者作用相反,因此,即使擾動(dòng)信號(hào)長(zhǎng)時(shí)間作用于電極,也不會(huì)導(dǎo)致極化現(xiàn)象的積累性發(fā)展和電極表面狀態(tài)的積累性變化。因此EIS法是一種“準(zhǔn)穩(wěn)

5、態(tài)方法”。 由于電勢(shì)和電流間存在線性關(guān)系,測(cè)量過程中電極處于準(zhǔn)穩(wěn)態(tài),使得測(cè)量結(jié)果的數(shù)學(xué)處理簡(jiǎn)化。 EIS是一種頻率域測(cè)量方法,可測(cè)定的頻率范圍很寬,因而比常規(guī)電化學(xué)方法得到更多的動(dòng)力學(xué)信息和電極界面結(jié)構(gòu)信息。,EIS的特點(diǎn),12,EIS測(cè)量的前提條件,因果性條件(causality):輸出的響應(yīng)信號(hào)只是由輸入的擾動(dòng)信號(hào)引起的的。 線性條件(linearity): 輸出的響應(yīng)信號(hào)與輸入的擾動(dòng)信號(hào)之間存在線性關(guān)系。電化學(xué)系統(tǒng)的電流與電勢(shì)之間是動(dòng)力學(xué)規(guī)律決定的非線性關(guān)系,當(dāng)采用小幅度的正弦波電勢(shì)信號(hào)對(duì)系統(tǒng)擾動(dòng),電勢(shì)和電流之間可近似看作呈線性關(guān)系。通常作為擾動(dòng)信號(hào)的電勢(shì)正弦波的幅度一般不超過10mV。

6、 穩(wěn)定性條件(stability): 擾動(dòng)不會(huì)引起系統(tǒng)內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,當(dāng)擾動(dòng)停止后,系統(tǒng)能夠回復(fù)到原先的狀態(tài)??赡娣磻?yīng)容易滿足穩(wěn)定性條件;不可逆電極過程,只要電極表面的變化不是很快,當(dāng)擾動(dòng)幅度小,作用時(shí)間短,擾動(dòng)停止后,系統(tǒng)也能夠恢復(fù)到離原先狀態(tài)不遠(yuǎn)的狀態(tài),可以近似的認(rèn)為滿足穩(wěn)定性條件。,13,正弦電勢(shì)信號(hào):,正弦電流信號(hào):,-角頻率,-相位角,(一) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)復(fù)數(shù),1 復(fù)數(shù)的概念,(2)復(fù)數(shù)的輻角(即相位角),(1)復(fù)數(shù)的模,(一) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)復(fù)數(shù),(3)虛數(shù)單位乘方,(一) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)復(fù)數(shù),(4)共軛復(fù)數(shù),2 復(fù)數(shù)表示法,(一) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)復(fù)數(shù),

7、(1)坐標(biāo)表示法,(2)三角表示法,(3)指數(shù)表示法,(一) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)復(fù)數(shù),3 復(fù)數(shù)的運(yùn)算法則,(1)加減,(2)乘除,(二) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)電工學(xué),1 正弦交流電流經(jīng)過各元件時(shí)電流與電壓的關(guān)系,(1)純電阻元件,電阻兩端的電壓與流經(jīng)電阻的電流是同頻同相的正弦交流電,(二) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)電工學(xué),(2)純電感元件,電感兩端的電壓與流經(jīng)的電流是同頻率的正弦量, 但在相位上電壓比電流超前,V,(二) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)電工學(xué),(二) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)電工學(xué),(3)純電容元件,電容器的兩端的電壓和流經(jīng)的電流是同頻率的正弦量, 只是電流在相位上比電壓超前,I,t,(二)

8、有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)電工學(xué),(二) 有關(guān)復(fù)數(shù)和電工學(xué)知識(shí)電工學(xué),2 復(fù)阻抗的概念,(1)復(fù)阻抗的串聯(lián),(2)復(fù)阻抗的并聯(lián),復(fù)阻抗Z是電路元件對(duì)電流的阻礙作用和移相作用的反映。,(三) 電解池的等效電路,(1),(2),(3),(4),(5),(三) 電解池的等效電路,電路描述碼 (Circuit Description Code, CDC) 規(guī)則如下: 元件外面的括號(hào)總數(shù)為奇數(shù)時(shí),該元件的第一層運(yùn)算為并聯(lián),外面的括號(hào)總數(shù)為偶數(shù)時(shí),該元件的第一層運(yùn)算為串聯(lián)。,(三) 電解池的等效電路,R(Q(W(RC),串聯(lián)元件,計(jì)算阻抗,各元件阻抗相加; 并聯(lián)元件,計(jì)算導(dǎo)納,各元件導(dǎo)納相加。,(四) 理想極化

9、電極的電化學(xué)阻抗譜,電解池阻抗的復(fù)平面圖(Nyquist圖),(四) 理想極化電極的電化學(xué)阻抗譜,1,圖,(2)低頻區(qū),討論:,(1)高頻區(qū),Bode圖,(四) 理想極化電極的電化學(xué)阻抗譜,(2)低頻區(qū),討論:,(1)高頻區(qū),Bode圖,2,圖,(四) 理想極化電極的電化學(xué)阻抗譜,時(shí)間常數(shù),(五)溶液電阻可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,Nyquist圖,(2)低頻區(qū),討論:,(1)高頻區(qū),(五)溶液電阻可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,Bode圖,圖,(2)低頻區(qū),(1)高頻區(qū),(五)溶液電阻可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,時(shí)間常數(shù),在Nyquist圖中,半圓上,的極大值處的頻率就是,特征頻率,令,(五)溶

10、液電阻可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,Bode圖,(五)溶液電阻可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,RC,(RC),(六)溶液電阻不可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,Cd與Rp并聯(lián)后與RL串聯(lián)后的總阻抗為,實(shí)部:,虛部:,Cd與Rp并聯(lián)后的總導(dǎo)納為,Nyquist圖,(2)低頻區(qū),(1)高頻區(qū),(六)溶液電阻不可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,Bode圖,(2)低頻區(qū),(1)高頻區(qū),(六)溶液電阻不可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,(2)低頻區(qū),(1)高頻區(qū),Bode圖,(六)溶液電阻不可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,(六)溶液電阻不可忽略時(shí)電化學(xué)極化的EIS,3 時(shí)間常數(shù),補(bǔ)充內(nèi)容,常見的規(guī)律總結(jié),在阻抗復(fù)數(shù)平面圖上,第1象

11、限的半圓是電阻和電容并聯(lián)所產(chǎn)生的,叫做容抗弧。 在Nyquist圖上,第1象限有多少個(gè)容抗弧就有多少個(gè)(RC)電路。有一個(gè)(RC)電路就有一個(gè)時(shí)間常數(shù)。,補(bǔ)充內(nèi)容,常見的規(guī)律總結(jié),一般說來,如果系統(tǒng)有電極電勢(shì)E和另外n個(gè)表面狀態(tài)變量,那么就有n+1個(gè)時(shí)間常數(shù),如果時(shí)間常數(shù)相差5倍以上,在Nyquist圖上就能分辨出n+1個(gè)容抗弧。第1個(gè)容抗?。ǜ哳l端)是(RpCd)的頻響曲線。,補(bǔ)充內(nèi)容,常見的規(guī)律總結(jié),有n個(gè)電極反應(yīng)同時(shí)進(jìn)行時(shí),如果又有影響電極反應(yīng)的x個(gè)表面狀態(tài)變量,此時(shí)時(shí)間常數(shù)的個(gè)數(shù)比較復(fù)雜。一般地說,時(shí)間常數(shù)的個(gè)數(shù)小于電極反應(yīng)個(gè)數(shù)n和表面狀態(tài)變量x之和,這種現(xiàn)象叫做混合電勢(shì)下EIS的退化

12、。,(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的電極的EIS,電極的等效電路,(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的電極的EIS,實(shí)部:,虛部:,(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的電極的EIS,濃差極化電阻RW和電容CW,稱為Warburg系數(shù)。,(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的電極的EIS,Nyquist圖,(2)低頻區(qū),(1)高頻區(qū),(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的電極的EIS,Bode圖,圖,(2)低頻區(qū),(1)高頻區(qū),(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的電極的EIS,Bode圖,圖,濃度極化對(duì)幅值圖的影響,(2)低頻區(qū),(1)高頻區(qū),Bode圖,圖,(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的

13、電極的EIS,Bode圖,圖,(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的電極的EIS,濃度極化對(duì)相角圖的影響,(七)電化學(xué)極化和濃度極化同時(shí)存在的電極的EIS,時(shí)間常數(shù),令,根據(jù),Bode圖,補(bǔ)充內(nèi)容,作Nyquist圖的注意事項(xiàng),(1),(2),(3),EIS譜圖實(shí)例,鋅鋁涂層在海水浸泡過程中的EIS,EIS譜圖實(shí)例,EIS譜圖實(shí)例,不恰當(dāng)?shù)膱D例,(八) 阻抗譜中的半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象,在實(shí)際電化學(xué)體系的阻抗測(cè)定中,人們常常觀察到阻抗圖上壓扁的半圓(depressed semi-circle),即在Nyquist圖上的高頻半圓的圓心落在了x軸的下方,因而變成了圓的一段弧。 該現(xiàn)象又被稱為半圓旋轉(zhuǎn)。,(八)

14、 阻抗譜中的半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象,一般認(rèn)為,出現(xiàn)這種半圓向下壓扁的現(xiàn)象,亦即通常說的阻抗半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象的原因與電極/電解液界面性質(zhì)的不均勻性有關(guān)。,固體電極的雙電層電容的頻響特性與“純電容”并不一致,而有或大或小的偏離,這種現(xiàn)象,一般稱為“彌散效應(yīng)”。 雙電層中電場(chǎng)不均勻,這種不均勻可能是電極表面太粗糙引起的。 界面電容的介質(zhì)損耗。,(八) 阻抗譜中的半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象,(八) 阻抗譜中的半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象,雙電層電容Cd、Rp與一個(gè)與頻率成反比的電阻并聯(lián)的等效電路,實(shí)部,虛部,(八) 阻抗譜中的半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象,實(shí)部,虛部,(八) 阻抗譜中的半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象,、,(八) 阻抗譜中的半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象,常相位角元件(Consta

15、nt Phase Element, CPE)具有電容性質(zhì),它的等效元件用Q表示,Q與頻率無關(guān),因而稱為常相位角元件。,常相位角元件,通常n在0.5和1之間。對(duì)于理想電極(表面平滑、均勻),Q等于雙層電容,n=1。n=1時(shí),,(八) 阻抗譜中的半圓旋轉(zhuǎn)現(xiàn)象,上面介紹的公式中的b與n實(shí)質(zhì)上都是經(jīng)驗(yàn)常數(shù),缺乏確切的物理意義,但可以把它們理解為在擬合真實(shí)體系的阻抗譜時(shí)對(duì)電容所做的修正。,阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn),(1)參比電極的影響,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,1.實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備,雙參比電極結(jié)構(gòu)示意圖,阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn),(2)要盡量減少測(cè)量連接線的長(zhǎng)度,減小雜散電容、電感的影響。,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻

16、抗譜分析思路,1.實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備,互相靠近和平行放置的導(dǎo)線會(huì)產(chǎn)生電容。 長(zhǎng)的導(dǎo)線特別是當(dāng)它繞圈時(shí)就成為了電感元件。 測(cè)定阻抗時(shí)要把儀器和導(dǎo)線屏蔽起來。,阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn),(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,2.頻率范圍要足夠?qū)?一般使用的頻率范圍是105-10-4Hz。 阻抗測(cè)量中特別重視低頻段的掃描。反應(yīng)中間產(chǎn)物的吸脫附和成膜過程,只有在低頻時(shí)才能在阻抗譜上表現(xiàn)出來。 測(cè)量頻率很低時(shí),實(shí)驗(yàn)時(shí)間會(huì)很長(zhǎng),電極表面狀態(tài)的變化會(huì)很大,所以掃描頻率的低值還要結(jié)合實(shí)際情況而定。,阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn),(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,3.阻抗譜必須指定電極電勢(shì),電極所處的電勢(shì)不同,測(cè)得的阻抗譜必然不同。阻抗

17、譜與電勢(shì)必須一一對(duì)應(yīng)。 為了研究不同極化條件下的電化學(xué)阻抗譜,可以先測(cè)定極化曲線,在電化學(xué)反應(yīng)控制區(qū)(Tafel區(qū))、混合控制區(qū)和擴(kuò)散控制區(qū)各選取若干確定的電勢(shì)值,然后在響應(yīng)電勢(shì)下測(cè)定阻抗。,阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn),(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,阻抗譜測(cè)試中的主要參數(shù)設(shè)置,Initial Freq / High Freq Final Freq / Low Freq Points/decade Cycles DC Voltage / Initial E AC Voltage / Amplitude,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,阻抗譜的分析思路,1.現(xiàn)象分析,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和

18、阻抗譜分析思路,2.圖解分析,阻抗譜的分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,3.數(shù)值計(jì)算,阻抗譜的分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,4.計(jì)算機(jī)模擬,阻抗譜的分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,6.8 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,(九) 阻抗實(shí)驗(yàn)注意點(diǎn)和阻抗譜分析思路,1 在

19、金屬電沉積研究中的應(yīng)用,-1.15V,-1.10V,鍍鋅,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,鍍銅,1 在金屬電沉積研究中的應(yīng)用,a基礎(chǔ)鍍液A; bA+60mg/L Cl; cB+300mg/LOP-21; dB+30mg/L PEG,(A)0.3mol/LCuSO4+1.94H2SO4,(B)10mg/LTDY+60mg/LCl-+(A),三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,鍍銅,1 在金屬電沉積研究中的應(yīng)用,無Cl-時(shí)含不同量AQ的Nyquist圖,含60ml/L Cl-的Nyquist圖,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,鍍鉻,1 在金屬電沉積研究中的應(yīng)用,鐵電極在含2g/L 硫酸的鍍鉻溶液中-0.9V時(shí)的Nyquist

20、圖,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,在合金電鍍研究中的應(yīng)用,1 在金屬電沉積研究中的應(yīng)用,Zn-Fe合金電鍍,1.45V(1),1.5V(2),三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,a只含Co2+;b、 c、 dCo2+Ni2+=51;11;15;e只含Ni2+,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,1 在金屬電沉積研究中的應(yīng)用,在合金電鍍研究中的應(yīng)用,用于擬合的等效電路,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,1 在金屬電沉積研究中的應(yīng)用,在合金電鍍研究中的應(yīng)用,在復(fù)合鍍研究中的應(yīng)用,1 在金屬電沉積研究中的應(yīng)用,Ni-SiC納米復(fù)合鍍液的電化學(xué)阻抗圖 (a)200rpm;(b)100rpm,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,在化學(xué)鍍研究中的應(yīng)用,1

21、在金屬電沉積研究中的應(yīng)用,化學(xué)鍍鎳中次亞磷酸鈉陽極氧化行為,基礎(chǔ)液+ 0.10 molL - 1 NaH2PO2 體系,基礎(chǔ)液+ 0.10 molL - 1 NaH2PO2 體系 + 0.10 molL1NaH2PO2體系,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,2 在電化學(xué)反應(yīng)機(jī)理和參數(shù)測(cè)量中的應(yīng)用,堿性溶液中析氫反應(yīng)的阻抗復(fù)平面圖 Ag電極,2000rpm,過電勢(shì):1130mV; 2190mV;3250mV;4310mV,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,2 在電化學(xué)反應(yīng)機(jī)理和參數(shù)測(cè)量中的應(yīng)用,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,3 在化學(xué)電源研究中的應(yīng)用,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,3 在化學(xué)電源研究中的應(yīng)用,三、電化學(xué)阻抗譜的

22、應(yīng)用,3 在化學(xué)電源研究中的應(yīng)用,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,3 在化學(xué)電源研究中的應(yīng)用,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,銻電極在不同過電勢(shì)時(shí)的Bode圖,3 在化學(xué)電源研究中的應(yīng)用,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,J Solid State Electrochem (2005) 9: 421428,3 在化學(xué)電源研究中的應(yīng)用,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,J Solid State Electrochem (2005) 9: 421428,物理意義: Rs:從參比電極到工作電極的溶液電阻 CPE:與雙電層電容關(guān)聯(lián)的常相位角元件 Rt:電極的電荷轉(zhuǎn)移電阻 Wo:固相擴(kuò)散的沃伯格阻抗,3 在化學(xué)電源研究中的應(yīng)用,三、電化

23、學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,J Solid State Electrochem (2005) 9: 421428,1.同一放電深度,電荷轉(zhuǎn)移電阻Rt值隨著Zn含量的增加,先減小后增大(0%DOD除外); 2.同一Zn含量的樣品,Rt值隨著DOD的增大而增大,歸因于NiOOH的還原和鎳電極的電化學(xué)極化。,4 在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,在涂料防護(hù)性能研究方面的應(yīng)用,干的富鋅涂層的EIS,測(cè)定富鋅涂層EIS的裝置示意圖,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,4 在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,在涂料防護(hù)性能研究方面的應(yīng)用,在人工海水中浸泡不同時(shí)間后富鋅涂層的EIS,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,4 在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,有機(jī)涂層下的金屬電

24、極的阻抗譜,浸泡初期涂層體系的EIS,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,RL:溶液電阻,RC:涂層電阻,CC:涂層電容,CC不斷增大,RC逐漸減小,浸泡初期涂層體系相當(dāng)于一個(gè)“純電容”,求解涂層電阻會(huì)有較大的誤差,而涂層電容可以較準(zhǔn)確地估算,4 在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,有機(jī)涂層下的金屬電極的阻抗譜,浸泡中期涂層體系的EIS,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,RPO:通過涂層微孔途徑的電阻值,電解質(zhì)是均勻地滲入涂層體系且界面的腐蝕電池是均勻分布的,4在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,有機(jī)涂層下的金屬電極的阻抗譜,浸泡中期涂層體系的EIS,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,涂層中含有顏料、填料等添加物,有的有機(jī)涂層中還專門添加阻擋溶液滲

25、入的片狀物。,電解質(zhì)的滲入較困難,參與界面腐蝕反應(yīng)的反應(yīng)粒子的傳質(zhì)過程就可能是個(gè)慢步驟。EIS中往往會(huì)出現(xiàn)擴(kuò)散過程引起的阻抗。,4 在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,有機(jī)涂層下的金屬電極的阻抗譜,浸泡后期涂層體系的EIS,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,隨著宏觀孔的形成,原本存在于有機(jī)涂層中的濃度梯度消失,另在界面區(qū)因基底金屬的復(fù)式反應(yīng)速度加快而形成新的濃度梯度層。,4在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,在緩蝕劑研究中的應(yīng)用,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,4 在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,在鈍化膜性能研究中的應(yīng)用,浸漬時(shí)間對(duì)鈍化膜EIS的影響,鈍化液pH對(duì)鈍化膜EIS的影響,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,4在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,在鍍層性能

26、研究中的應(yīng)用,無添加劑,有添加劑,高速鍍鋅層在NaCl溶液中的界面EC,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,4 在腐蝕科學(xué)研究中的應(yīng)用,在鍍層性能研究中的應(yīng)用,化學(xué)鍍鎳磷合金在濃NaOH溶液中的EC,高磷化學(xué)鍍鎳鍍層在濃堿溶液中的EIS行為,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,4 在腐蝕與防護(hù)中的應(yīng)用,(1)兩個(gè)時(shí)間常數(shù)的模型,金屬本體,腐蝕產(chǎn)物層,金屬腐蝕機(jī)制研究,三、電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用,研究不同鍍層的鋼材的腐蝕情況,Adv. Mater. 2006, 18, 1672-1678 Chem. Mater. 2007, 19, 402-411 Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 3137-3147,(2)三個(gè)時(shí)間常數(shù)的模型,(a) 自修復(fù)膜腐蝕機(jī)制的研究,保護(hù)膜,鈍化膜,金屬本體,保護(hù)膜,鈍化膜,金屬腐蝕區(qū),1,2,3,4,保護(hù)膜電容區(qū) 保護(hù)膜阻抗區(qū) 鈍化膜電容區(qū) 鈍化膜阻抗區(qū),電容隨著頻率減少而增加 阻抗不隨頻率而變化,謝 謝,

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