精密的單電源光檢測電路設(shè)計(jì)方案.doc

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1、精密的單電源光檢測電路設(shè)計(jì)方案 武漢力源電子股份有限公司IC信息部（430079） 葉 青編譯 摘 要 論述了光電二極管檢測電路的組成及工作原理，給出了光電二極管、前置運(yùn)放、反饋網(wǎng)絡(luò)的SPICE子模型及系統(tǒng)模型；著重分析了系統(tǒng)穩(wěn)定性、噪聲特性以及提高穩(wěn)定性和減小噪聲的方法。提供了采用通用電路模擬軟件SPICE進(jìn)行相關(guān)性能模擬的實(shí)例。 關(guān)鍵詞 光檢測電路 SPICE模擬 穩(wěn)定性 噪聲特性 光電二極管及其相關(guān)的前置放大器是基本物理量和電子量之間的橋梁。許多精密應(yīng)用領(lǐng)域需要檢測光亮度并將之轉(zhuǎn)換為有用的數(shù)字信號。光檢測電路可用于CT掃描儀、血液分析儀、煙霧檢測器、位置傳感器、紅外高

2、溫計(jì)和色譜分析儀等系統(tǒng)中。在這些電路中，光電二極管產(chǎn)生一個(gè)與照明度成比例的微弱電流。而前置放大器將光電二極管傳感器的電流輸出信號轉(zhuǎn)換為一個(gè)可用的電壓信號?？雌饋砗孟笥靡粋€(gè)光電二極管、一個(gè)放大器和一個(gè)電阻便能輕易地實(shí)現(xiàn)簡單的電流至電壓的轉(zhuǎn)換，但這種應(yīng)用電路卻提出了一個(gè)問題的多個(gè)側(cè)面。為了進(jìn)一步擴(kuò)展應(yīng)用前景，單電源電路還在電路的運(yùn)行、穩(wěn)定性及噪聲處理方面顯示出新的限制。 本文將分析并通過模擬驗(yàn)證這種典型應(yīng)用電路的穩(wěn)定性及噪聲性能。首先探討電路工作原理，然后如果讀者有機(jī)會(huì)的話，可以運(yùn)行一個(gè)SPICE模擬程序，它會(huì)很形象地說明電路原理。以上兩步是完成設(shè)計(jì)過程的開始。第三步也是最重要的一步（本文未作

3、討論）是制作實(shí)驗(yàn)?zāi)M板。 1 光檢測電路的基本組成和工作原理 設(shè)計(jì)一個(gè)精密的光檢測電路最常用的方法是將一個(gè)光電二極管跨接在一個(gè)CMOS輸入放大器的輸入端和反饋環(huán)路的電阻之間。這種方式的單電源電路示于圖1中。 在該電路中，光電二極管工作于光致電壓（零偏置）方式。光電二極管上的入射光使之產(chǎn)生的電流ISC從負(fù)極流至正極，如圖中所示。由于CMOS放大器反相輸入端的輸入阻抗非常高，二極管產(chǎn)生的電流將流過反饋電阻RF。輸出電壓會(huì)隨著電阻RF兩端的壓降而變化。 圖中的放大系統(tǒng)將電流轉(zhuǎn)換為電壓，即 VOUT = ISC RF （1） 圖1 單電源光電二極管檢測電路 式（1）中，

4、VOUT是運(yùn)算放大器輸出端的電壓，單位為V；ISC是光電二極管產(chǎn)生的電流，單位為A；RF是放大器電路中的反饋電阻，單位為W 。圖1中的CRF是電阻RF的寄生電容和電路板的分布電容，且具有一個(gè)單極點(diǎn)為1/（2p RF CRF）。 用SPICE可在一定頻率范圍內(nèi)模擬從光到電壓的轉(zhuǎn)換關(guān)系。模擬中可選的變量是放大器的反饋元件RF。用這個(gè)模擬程序，激勵(lì)信號源為ISC，輸出端電壓為VOUT。 此例中，RF的缺省值為1MW ，CRF為0.5pF。理想的光電二極管模型包括一個(gè)二極管和理想的電流源。給出這些值后，傳輸函數(shù)中的極點(diǎn)等于1/（2p RFCRF），即318.3kHz。改變RF可在信號頻響范圍內(nèi)

5、改變極點(diǎn)。 遺憾的是，如果不考慮穩(wěn)定性和噪聲等問題，這種簡單的方案通常是注定要失敗的。例如，系統(tǒng)的階躍響應(yīng)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)其數(shù)量難以接受的振鈴輸出，更壞的情況是電路可能會(huì)產(chǎn)生振蕩。如果解決了系統(tǒng)不穩(wěn)定的問題，輸出響應(yīng)可能仍然會(huì)有足夠大的“噪聲”而得不到可靠的結(jié)果。 實(shí)現(xiàn)一個(gè)穩(wěn)定的光檢測電路從理解電路的變量、分析整個(gè)傳輸函數(shù)和設(shè)計(jì)一個(gè)可靠的電路方案開始。設(shè)計(jì)時(shí)首先考慮的是為光電二極管響應(yīng)選擇合適的電阻。第二是分析穩(wěn)定性。然后應(yīng)評估系統(tǒng)的穩(wěn)定性并分析輸出噪聲，根據(jù)每種應(yīng)用的要求將之調(diào)節(jié)到適當(dāng)?shù)乃健? 這種電路中有三個(gè)設(shè)計(jì)變量需要考慮分析，它們是：光電二極管、放大器和R//C反饋網(wǎng)絡(luò)。首先選擇

6、光電二極管，雖然它具有良好的光響應(yīng)特性，但二極管的寄生電容將對電路的噪聲增益和穩(wěn)定性有極大的影響。另外，光電二極管的并聯(lián)寄生電阻在很寬的溫度范圍內(nèi)變化，會(huì)在溫度極限時(shí)導(dǎo)致不穩(wěn)定和噪聲問題。為了保持良好的線性性能及較低的失調(diào)誤差，運(yùn)放應(yīng)該具有一個(gè)較小的輸入偏置電流（例如CMOS工藝）。此外，輸入噪聲電壓、輸入共模電容和差分電容也對系統(tǒng)的穩(wěn)定性和整體精度產(chǎn)生不利的影響。最后，R//C反饋網(wǎng)絡(luò)用于建立電路的增益。該網(wǎng)絡(luò)也會(huì)對電路的穩(wěn)定性和噪聲性能產(chǎn)生影響。 2 光檢測電路的SPICE模型 2.1 光電二極管的SPICE模型 一個(gè)光電二極管有兩種工作方式：光致電壓和光致電導(dǎo)，它們各有優(yōu)缺點(diǎn)。在

7、這兩種方式中，光照射到二極管上產(chǎn)生的電流ISC方向與通常的正偏二極管正常工作時(shí)的方向相反，即從負(fù)極到正極。 光電二極管的工作模型示于圖2中，它由一個(gè)被輻射光激發(fā)的電流源、理想的二極管、結(jié)電容和寄生的串聯(lián)及并聯(lián)電阻組成。 圖2 非理想的光電二極管模型 當(dāng)光照射到光電二極管上時(shí)，電流便產(chǎn)生了，不同二極管在不同環(huán)境中產(chǎn)生的電流ISC、具有的CPD、RPD值以及圖中放大器輸出電壓為0~5V所需的電阻RF值均不同，例如SD-020-12-001硅光電二極管，在正常直射陽光（1000fc[英尺-燭光]）時(shí)，ISC=30m A、CPD=50pF、RPD=1000MW 、RF=167kW ；

8、睛朗白天（100fc）時(shí)，ISC = 3m A、CPD=50pF、RPD= 1000 MW 、RF=1.67MW ；桌上室內(nèi)光（1.167fc）時(shí)，ISC=35nA、CPD=50pF、RPD=1000MW 、RF=142.9MW 。可見光照不同時(shí)，ISC有顯著變化，而CPD、RPD基本不變。 工作于光致電壓方式下的光電二極管上沒有壓降，即為零偏置。在這種方式中，為了光靈敏度及線性度，二極管被應(yīng)用到最大限度，并適用于精密應(yīng)用領(lǐng)域。影響電路性能的關(guān)鍵寄生元件為CPD和RPD，它們會(huì)影響光檢測電路的頻率穩(wěn)定性和噪聲性能。 結(jié)電容CPD是由光電二極管的P型和N型材料之間的耗盡層寬度產(chǎn)生的。耗盡

9、層窄，結(jié)電容的值大。相反，較寬的耗盡層（如PIN光電二極管）會(huì)表現(xiàn)出較寬的頻譜響應(yīng)。硅二極管結(jié)電容的數(shù)值范圍大約從20或25pF到幾千pF以上。結(jié)電容對穩(wěn)定性、帶寬和噪聲等性能產(chǎn)生的重要影響將在下面討論。 在光電二極管的數(shù)據(jù)手冊中，寄生電阻RPD也稱作“分流”電阻或“暗”電阻。該電阻與光電二極管零偏或正偏有關(guān)。在室溫下，該電阻的典型值可超過100MW 。對于大多數(shù)應(yīng)用，該電阻的影響可被忽略。 分流電阻RPD是主要的噪聲源，這種噪聲在圖2中示為ePD。RPD產(chǎn)生的噪聲稱作散粒噪聲（熱噪聲），是由于載流子熱運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的。 二極管的第二個(gè)寄生電阻RS稱為串聯(lián)電阻，其典型值從10W 到100

10、0W 。由于此電阻值很小，它僅對電路的頻率響應(yīng)有影響。光電二極管的漏電流IL是引發(fā)誤差的第四個(gè)因素。如果放大器的失調(diào)電壓為零，這種誤差很小。 與光致電壓方式相反，光致電導(dǎo)方式中的光電二極管具有一個(gè)反向偏置電壓加至光傳感元件的兩端。當(dāng)此電壓加至光檢測器上時(shí)，耗盡層的寬度會(huì)增加，從而大幅度地減小寄生電容CPD的值。寄生電容值的減小有利于高速工作，然而，線性度和失調(diào)誤差尚未最優(yōu)化。這個(gè)問題的折衷設(shè)計(jì)將增加二極管的漏電流IL和線性誤差。 下面將集中討論光致電壓方式下的光電二極管的應(yīng)用領(lǐng)域。 2.2 運(yùn)放的SPICE模型 運(yùn)算放大器具有范圍較寬的技術(shù)指標(biāo)及性能參數(shù)，它對光檢測電路的穩(wěn)定性和

11、噪聲性能影響很少。其主要參數(shù)示于圖3的模型中，它包括一個(gè)噪聲源電壓、每個(gè)輸入端的寄生共模電容、輸入端之間的寄生電容及與頻率有關(guān)的開環(huán)增益。 輸入差分電容CDIFF和輸入共模電容CCM是直接影響電路穩(wěn)定性和噪聲性能的寄生電容。這些寄生電容在數(shù)據(jù)手冊中通常規(guī)定為典型值，基本不隨時(shí)間和溫度變化。 另一個(gè)涉及到輸入性能的是噪聲電壓，該參數(shù)可模擬為運(yùn)放同相輸入端的噪聲源。此噪聲源為放大器產(chǎn)生的所有噪聲的等效值。利用此噪聲源可建立放大器的全部頻譜模型，包括1/f噪聲或閃爍噪聲以及寬帶噪聲。討論中假設(shè)采用CMOS輸入放大器，則輸入電流噪聲的影響可忽略不計(jì)。 圖3 非理想的運(yùn)放模型 當(dāng)運(yùn)

12、行SPICE噪聲模擬程序時(shí)，必須使用一個(gè)獨(dú)立的交流電壓源或電流源。為了模擬放大器的輸入噪聲RTI，一個(gè)獨(dú)立的電壓源VIN應(yīng)加在放大器的同相輸入端。另外，電路中的反饋電阻保持較低值（100W ），以便在評估中不影響系統(tǒng)噪聲。 圖3模型中的最后一個(gè)技術(shù)指標(biāo)為在頻率范圍內(nèi)的開環(huán)增益AOL（jw ），典型情況下，在傳輸函數(shù)中該響應(yīng)特性至少有兩個(gè)極點(diǎn)，該特性用于確定電路的穩(wěn)定性。 在這個(gè)應(yīng)用電路中，對運(yùn)放有影響而未模擬的另一個(gè)重要性能參數(shù)是輸入共模范圍和輸出擺幅范圍。一般而言，輸入共模范圍必須擴(kuò)展到超過負(fù)電源幅值，而輸出擺幅必須盡可能地?cái)[動(dòng)到負(fù)電源幅值。大多數(shù)單電源CMOS放大器具有負(fù)電源電壓以

13、下0.3V的共模范圍。由于同相輸入端接地，此類性能非常適合于本應(yīng)用領(lǐng)域。當(dāng)放大器對地的負(fù)載電阻為小于RF /10時(shí)，則單電源放大器的輸出擺幅可最優(yōu)化。如果采用這種方法，最壞情況下放大器負(fù)載電阻的噪聲也僅為總噪聲的0.5%。 SPICE宏模型可以模擬也可以不模擬這些參數(shù)。一個(gè)放大器宏模型會(huì)具有適當(dāng)?shù)拈_環(huán)增益頻率響應(yīng)、輸入共模范圍和不那么理想的輸出擺幅范圍。表1中列出了本文使用的三個(gè)放大器宏模型的特性。 光電二極管和放大器的寄生元件對電路的影響可容易地用SPICE模擬加以說明。例如，在理想情況下，可以通過使用ISC的方波函數(shù)和觀察輸出響應(yīng)來進(jìn)行模擬。 2.3 反饋元件模型 本應(yīng)用中應(yīng)

14、該考慮的第三個(gè)即最后一個(gè)變量是放大器的反饋系統(tǒng)。圖4示出一個(gè)反饋網(wǎng)絡(luò)模型。 在圖4中，分離的反饋電阻RF也有一個(gè)噪聲成分eRF和一個(gè)寄生電容CRF 。 寄生電容CRF為電阻RF及與電路板/接線板相關(guān)的電容。此電容的典型值為0.5pF到1.0pF。 CF是反饋網(wǎng)絡(luò)模型中包含的第2個(gè)分離元件，用于穩(wěn)定電路。 圖4 圖1所示系統(tǒng)反饋電路的 寄生元件模型 表1 本文提到的運(yùn)放宏模型特性 典型參數(shù) 理想值 MCP601 運(yùn)放#2 輸入差分電容 0pF 3pF 3pF 輸入共模電容 0pF 6pF 6pF 溫度范圍內(nèi)的輸入偏流 0pA 50pA 5

15、0pA 輸入電壓噪聲 靜態(tài)電流 250m A 250m A 25m A 增益vs.頻率 無極點(diǎn) 在傳輸函數(shù)中有2個(gè)極點(diǎn) 在傳輸函數(shù)中有2個(gè)極點(diǎn) 單位增益相交時(shí)的相位容限 N/A 60 60 增益帶寬積（GBW） 未確定 2.8MHz 100kHz 將三個(gè)子模型（光電二極管、運(yùn)放和反饋網(wǎng)絡(luò)）組合起來可組成光檢測電路的系統(tǒng)模型。如圖5所示。 3 系統(tǒng)模型的相互影響和系統(tǒng)穩(wěn)定性分析 當(dāng)光電二極管配置為光致電壓工作方式時(shí)，圖5所示的系統(tǒng)模型可用來定性分析系統(tǒng)的穩(wěn)定性。 這個(gè)系統(tǒng)模型的SPICE能模擬光電二極管檢測電路的頻率及噪聲響應(yīng)。尤其是在

16、進(jìn)入硬件實(shí)驗(yàn)以前，通過模擬手段可以容易地驗(yàn)證并設(shè)計(jì)出良好的系統(tǒng)穩(wěn)定性。該過程是評估系統(tǒng)的傳輸函數(shù)、確定影響系統(tǒng)穩(wěn)定性的關(guān)鍵變量并作相應(yīng)調(diào)整的過程。 該系統(tǒng)的傳輸函數(shù)為 （2） 圖5 標(biāo)準(zhǔn)光檢測電路的系統(tǒng)模型 式（2）中，AOL（jw ）是放大器在頻率范圍內(nèi)的開環(huán)增益。b 是系統(tǒng)反饋系數(shù)，等于1/（1+ZF/ZIN）。1/b 也稱作系統(tǒng)的噪聲增益。 ZIN是輸入阻抗，等于RPD//1/[jw （CPD+CCM+ CDIFF）]；ZF是反饋?zhàn)杩梗扔赗F //1/[jw （CRF+CF）]。 通過補(bǔ)償AOL（jw ） b 的相位可確定系統(tǒng)的穩(wěn)定性，這可憑經(jīng)驗(yàn)用AOL（

17、jw ）和1/b 的Bode圖來實(shí)現(xiàn)。圖6中的各圖說明了這個(gè)概念。 開環(huán)增益頻率響應(yīng)和反饋系數(shù)的倒數(shù)（1/b ）之間的閉合斜率必須小于或等于－20dB/10倍頻程。圖6中（a）、（c）表示穩(wěn)定系統(tǒng)，(b)、（d）表示不穩(wěn)定系統(tǒng)。在（a）中，放大器的開環(huán)增益（AOL（jw ））以零dB隨頻率變化并很快變化到斜率為 －20dB/10倍頻程。盡管未在圖中顯示，但這個(gè)變化是由開環(huán)增益響應(yīng)的一個(gè)極點(diǎn)導(dǎo)致的，并伴隨著相位的變化，在極點(diǎn)以前開始以10倍頻程變化。即在極點(diǎn)的10倍頻程處，相移約為0 。在極點(diǎn)發(fā)生的頻率處，相移為－45 。當(dāng)斜率隨著頻率變化，到第二個(gè)極點(diǎn)時(shí)開環(huán)增益響應(yīng)變化至－40dB/10倍

18、頻程。并再次伴隨著相位的變化。第3個(gè)以零點(diǎn)響應(yīng)出現(xiàn)，并且開環(huán)增益響應(yīng)返回至－20dB/10倍頻程的斜率。 圖6 確定系統(tǒng)穩(wěn)定性的Bode圖 在同一個(gè)圖中，1/b 曲線以零dB開始隨頻率變化。1/b 隨著頻率的增加保持平滑，直到曲線末尾有一個(gè)極點(diǎn)產(chǎn)生，曲線便開始衰減20dB/10倍頻程。 圖（a）中令人感興趣的一點(diǎn)就是AOL（jw ）曲線和1/b 曲線的交點(diǎn)。兩條曲線交點(diǎn)的斜率示出了系統(tǒng)的相位容限，也預(yù)示著系統(tǒng)的穩(wěn)定性。在圖中，交點(diǎn)斜率為－20dB/10倍頻程。在這種情況下，放大器將提供－90 的相移，而反饋系數(shù)則提供零度相移。相移和系統(tǒng)的穩(wěn)定性均由兩條曲線的交點(diǎn)決定。1/b 相移

19、和AOL（jw ）相移相加，系統(tǒng)的相移為－90 ，容限為90 。從理論上說，如果相位容限大于零度，系統(tǒng)是穩(wěn)定的。但實(shí)際應(yīng)用中相位容限至少應(yīng)有45 才能使系統(tǒng)穩(wěn)定。 在圖6的（c）中，AOL（jw ）曲線和1/b 曲線的交點(diǎn)表示一個(gè)在一定程度上穩(wěn)定的系統(tǒng)。此點(diǎn) AOL（jw ）曲線正以－20dB/10倍頻程的斜率變化，而1/b 曲線正從20dB/10倍頻程的斜率轉(zhuǎn)換到0dB/10倍頻程的斜率。AOL(jw )曲線的相移為－90 。1/b 曲線的相移則為－45 。將這兩個(gè)相移相加后，總的相移為－135 ，即相位容限為45 。雖然該系統(tǒng)看上去較穩(wěn)定，即相位容限大于0 ，但是電路不可能像計(jì)算或模擬

20、那樣理想化，因?yàn)殡娐钒宕嬖谥纳娙莺碗姼?。結(jié)果，具有這樣大小的相位容限，這個(gè)系統(tǒng)只能是“一定程度上的穩(wěn)定”。 圖6中（b）、（d）均為不穩(wěn)定系統(tǒng)。在（b）圖中，AOL（jw ）以－20dB/10倍頻程的斜率變化。1/b 則以+20dB/10倍頻程的斜率變化。這兩條曲線的閉合斜率為40dB/10倍頻程，表示相移為－180 ，相位容限為0 。 在（d）圖中，AOL（jw ）以－40dB/10倍頻程的斜率變化。而1/b 以0dB/10倍頻程的斜率變化。兩條曲線的閉合斜率為－40dB/10倍頻程，表示相移為－180 。 通過模擬可表明使用非理想的光電二極管和運(yùn)放模型會(huì)造成相當(dāng)數(shù)量的振

21、鈴或不穩(wěn)定因素。在頻率域內(nèi)重新進(jìn)行這種模擬會(huì)很快重現(xiàn)這種不穩(wěn)定因素。 系統(tǒng)的不穩(wěn)定性可用兩種方法校正：（1）增加一個(gè)反饋電容CF；（2）改進(jìn)放大器，使其具有差分AOL頻率響應(yīng)或差分輸入電容。 改變反饋電容。系統(tǒng)中影響噪聲增益1/b 頻率響應(yīng)的有光電二極管的寄生電容、運(yùn)放的輸入電容，其阻抗以ZIN表示，放大器反饋環(huán)路的寄生元件，其阻抗以ZF表示。 ZIN = RPD //1/[ jw （CPD+CCM+CDIFF）] ZF = RF //1/ [jw （CRF+CF）] （3） 1/b = 1+ZF/ZIN 噪聲增益1/b 曲線的極點(diǎn)、零點(diǎn)如圖7所示。開環(huán)增益頻率響應(yīng)和反饋

22、系數(shù)的倒數(shù)1/b 間的閉合斜率必須小于或等于20dB/10倍頻程。 在圖7中，極零點(diǎn)頻率如下： fP1=1/(2p （RPD//RF）（CPD+CCM+CDIFF+CF+ CRF）） fP2 =1/(2p RS CPD） fZ=1/（2p RF（CF+CRF）） （4） 圖7 噪聲增益1/b 曲線的極零點(diǎn)圖 從式（4）中容易地看出，加大CF將降低fP1，并降低高頻增益[1+（CPD+CCM+CDIFF）/（CF+CRF）]。 1/b 網(wǎng)絡(luò)的極點(diǎn)設(shè)計(jì)成1/b 與放大器的開環(huán)增益曲線相交的那一點(diǎn)。此時(shí)頻率就是這兩條曲線的幾何平均值。CF可計(jì)算如下 （5） 式（5

23、）中fU是放大器的增益帶寬積。此時(shí)，系統(tǒng)具有45 的總相位容限，階躍響應(yīng)將呈現(xiàn)25%的過沖。對于使用MCP601放大器的電路，CF的值將為 這種最佳的計(jì)算結(jié)果是建立在假設(shè)放大器參數(shù)如帶寬或輸入電容以及反饋電阻值沒有改變，二極管的寄生電容也無改變基礎(chǔ)上的。 較保守的計(jì)算方法CF的取值為 （6） 此時(shí)系統(tǒng)的相位容限將為65 ，而階躍函數(shù)的過沖是5%。用式（6），CF的值將為 這種保守的方法會(huì)輕微增加系統(tǒng)噪聲。上述兩種結(jié)果均可用模擬程序#7～#10分別對表1中的MCP601和OPAMP#2進(jìn)行模擬。 4 噪聲分析及其減小 系統(tǒng)的噪聲性能是通過計(jì)算或模擬而推導(dǎo)出來

24、的，它涉及到頻率響應(yīng)中五個(gè)區(qū)域的噪聲和反饋電阻噪聲。這五個(gè)區(qū)域如圖8所示。圖8中將整個(gè)響應(yīng)分成五個(gè)區(qū)域便可容易地計(jì)算出噪聲電壓。每個(gè)區(qū)域內(nèi)的總噪聲等于系統(tǒng)增益（1/b ）乘以放大器噪聲的均方根值。RF的噪聲不乘系統(tǒng)增益。 該系統(tǒng)的噪聲電壓完整計(jì)算如下 （7） 式中e2N是指定頻率范圍內(nèi)的平方累積噪聲，（N=1，2，……5）。 盡管這些計(jì)算看來較冗長，但還是相當(dāng)有指導(dǎo)意義的。計(jì)算結(jié)果將得出總的系統(tǒng)噪聲并指出有問題的區(qū)域。 系統(tǒng)噪聲的累積均方根值也可用SPICE模擬。其X軸為頻率（Hz），Y 軸是從直流到指定頻率的累積噪聲電壓（V）。 一個(gè)SPICE噪聲模擬需要一個(gè)獨(dú)

25、立的交流電壓源或電流源。此時(shí)電路的輸出噪聲（RTO）可被模擬。在這個(gè)模擬中，X軸為頻率（Hz），Y軸為噪聲的累積均方根值VRMS。在運(yùn)行模擬程序之前，應(yīng)確保已經(jīng)鍵入了用戶想采用的反饋電容值。 圖8 系統(tǒng)噪聲 采用MCP601放大器模擬系統(tǒng)的累積噪聲，結(jié)果顯示噪聲主要發(fā)生在較高的頻率處。增加CF的值或減少RF的值可容易地降低整個(gè)系統(tǒng)的噪聲。 另一個(gè)降低噪聲的方法是減小放大器的帶寬。這可從模擬“運(yùn)放#2”中觀察到。在運(yùn)行模擬程序之前，要保證已鍵入了用戶想采用的反饋電容值。 采用“運(yùn)放#2”模擬系統(tǒng)的累積噪聲顯示了所希望的結(jié)果，但是，光電二極管輸入信號的帶寬卻由于放大器的帶寬限

26、制而大大減小。在某些應(yīng)用領(lǐng)域，這可能是不可折衷的。為了降低噪聲，這個(gè)電路輸出端可減小的其它參數(shù)是光電二極管的寄生電容CPD和運(yùn)放的輸入電容CCM和CDIFF。 在光電二極管前置放大器電路中，允許的最大噪聲是多少？作為一種參考，工作在5V輸入范圍的12位系統(tǒng)具有相當(dāng)于1.22mV的LSB。而同樣輸入電壓范圍的16位系統(tǒng)的LSB則為76.29m V。 5 結(jié)論 本文特別關(guān)注了與標(biāo)準(zhǔn)光檢測電路有關(guān)的穩(wěn)定性和噪聲問題。電路工作原理為如何較好地解決設(shè)計(jì)問題提供了思路。而模擬則用于驗(yàn)證理論，它說明如何才能設(shè)計(jì)出一個(gè)低噪聲又充分穩(wěn)定的電路方案。設(shè)計(jì)中的可變參數(shù)是光電二極管、運(yùn)算放大器和反饋網(wǎng)絡(luò)。選

27、擇光電二極管主要是因?yàn)槠淞己玫墓忭憫?yīng)特性。但是，它的寄生電容會(huì)對噪聲增益和電路的穩(wěn)定性產(chǎn)生影響。選擇運(yùn)放是由于其小的輸入偏置電流和帶寬。此外，放大器產(chǎn)生的噪聲也是一個(gè)重要的指標(biāo)。最后，反饋網(wǎng)絡(luò)也影響系統(tǒng)的信號帶寬和噪聲幅度。 一旦理論和模擬相互吻合，設(shè)計(jì)過程中最后且最重要的一步就是制作實(shí)驗(yàn)?zāi)M板。 需要說明的是：本文提供了用SPICE軟件模擬實(shí)例電路12種相關(guān)的性能，它們分別可模擬光電二極管的傳輸函數(shù)，二極管上升時(shí)間；運(yùn)放的噪聲、運(yùn)放的方波響應(yīng)；光檢測電路系統(tǒng)的頻率響應(yīng)和階躍響應(yīng)；系統(tǒng)的積累噪聲等(略)。讀者可通過網(wǎng)址http: ///netsim/ photo-diode/pd_上相

28、應(yīng)的模擬程序進(jìn)行模擬。 參 考 文 獻(xiàn) 1 Baker, Bonnie C.. Keeping the Signal Clean in Photosensing Instrumentation. SENSORS, June 1997: 12 2 Baker, Bonnie C.. The Eyes of the Electronics World. (Internet Magazine), Analog Avenue, Tech Notes, January 21, 1998 3 Baker, Bonnie C.. Comparison of Noise Perfor-mance between a FET Transimpedance Amplifier and a Switched Integrator. Burr-Brown Application note, AB-057, January 199 4 eippel, Robert G.. Optoelectronics, Reston Publishing Company. Inc., 1981