基于子結(jié)構(gòu)法的板級PoP跌落沖擊可靠性分析研究.ppt
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2013屆碩士學(xué)位論文畢業(yè)答辯報告,基于子結(jié)構(gòu)法的板級PoP跌落 沖擊可靠性分析研究,主要內(nèi)容,概述 論文重要理論基礎(chǔ) 基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析 考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)的板級PoP跌落分析 動態(tài)四點彎曲試驗仿真 結(jié)論與展望 致謝,一、概述,1、課題來源: ----,一、概述,,2、論文研究背景及意義: PoP具有裝配前各封裝器件可以單獨測試,提高產(chǎn)品貼裝良品率等諸多優(yōu)勢,近幾年在便攜式電子產(chǎn)品中得到廣泛應(yīng)用。然而便攜式電子產(chǎn)品在使用過程中經(jīng)常會遭受到跌落沖擊載荷,使PoP焊點可靠性問題凸顯。 由于板級跌落測試試驗具有成本高和周期長的局限性,而有限元模擬方法可以彌補上述不足,因此有限元數(shù)值模擬技術(shù)受到越來越多的關(guān)注。一般仿真分析時為了得到較為精確的計算結(jié)果,需要對焊點進(jìn)行精細(xì)的網(wǎng)格劃分,而PoP結(jié)構(gòu)復(fù)雜,尤其當(dāng)PCB上貼裝多個PoP時,往往致使總體求解規(guī)模極為龐大,計算非常耗時。,一、概述,子結(jié)構(gòu)技術(shù)具有降低計算規(guī)模、提高計算效率、保證一定精度的特點,對于求解計算規(guī)模較大的結(jié)構(gòu)分析具有極大優(yōu)勢,因此有必要將子結(jié)構(gòu)方法應(yīng)用到PoP焊點跌落可靠性有限元分析中。,一、概述,3、國內(nèi)外研究現(xiàn)狀: PoP(Package-on-Package,封裝上封裝)近幾年在便攜式電子產(chǎn)品中得到廣泛應(yīng)用。隨著PoP的廣泛使用,跌落可靠性問題凸顯。近年來,國內(nèi)外一些學(xué)者已對對PoP跌落沖擊環(huán)境下焊點可靠性進(jìn)行了較多研究。目前對PoP跌落沖擊跌落測試實驗來完成,如Amkor技術(shù)公司R&D中心的Joon-Yeob Lee, Tae-Kyung Hwang等[19]通過對試件進(jìn)行溫度循環(huán)試驗和JEDEC推薦板級跌落實驗,研究了不同底充膠對PoP散熱性能和跌落沖擊可靠性的影響。STMicroelectronics的Jing-en Luan[20]對PoP標(biāo)準(zhǔn)板級跌落實驗焊點失效模式進(jìn)行了分析。,關(guān)于板級PoP跌落可靠性數(shù)值分析還比較少,且數(shù)值模擬大多數(shù)是建立PCB中心貼裝一個PoP的有限元模型。而之所以只建立一個POP的情況。其原因是PoP結(jié)構(gòu)復(fù)雜,焊點達(dá)數(shù)百個,當(dāng)建立PCB貼裝多個PoP板級跌落有限元模型時,往往致使總體求解規(guī)模極為龐大,采用常規(guī)有限元法對系統(tǒng)進(jìn)行分析,會給分析帶來很多困難,比如由于計算機(jī)的容量不足而引起太大的誤差和要花費許多的機(jī)時等等。子結(jié)構(gòu)技術(shù)可以彌補上述不足,對于求解計算規(guī)模較大的結(jié)構(gòu)分析具有極大優(yōu)勢。因此本文將子結(jié)構(gòu)方法應(yīng)用到板級PoP焊點跌落有限元分析中。,一、概述,4、主要研究內(nèi)容: 1)基于JESD22-B111標(biāo)準(zhǔn),建立了標(biāo)準(zhǔn)板級PoP跌落分析三維有限元模型,對整個組件進(jìn)行了子結(jié)構(gòu)跌落仿真分析。 2)為了使仿真結(jié)果能更真實體現(xiàn)焊點遭受跌落沖擊的情況,采用子結(jié)構(gòu)法對考慮了焊點應(yīng)變率效應(yīng)的板級PoP組件進(jìn)行跌落分析,并考察了焊點高度,焊點直徑等因素對PoP焊點跌落可靠性的影響。 3)對PoP動態(tài)四點彎曲試驗進(jìn)行了仿真分析,探討了動態(tài)四點彎曲試驗代替標(biāo)準(zhǔn)板級跌落試驗評價PoP可靠性的可行性。,二、論文重要理論基礎(chǔ),1、 跌落可靠性試驗 1)標(biāo)準(zhǔn)板級跌落實驗 試驗過程中,跌落臺在固定高度無初速度釋放,沿著導(dǎo)軌自由下落,直至碰撞到覆蓋著氈墊的剛性基座上,在此過程中,跌落臺產(chǎn)生加速度脈沖,此脈沖通過基準(zhǔn)平面和支撐支座傳遞到PCB組件和加速計上,PCB組件受到加速度脈沖的作用,發(fā)生彎曲變形。,圖2-1 標(biāo)準(zhǔn)板級跌落沖擊測試設(shè)備,2)四點動態(tài)彎曲實驗 JEDEC推薦跌落實驗還處于試用階段,實驗準(zhǔn)備時間長不利于新產(chǎn)品的開發(fā),因此近年來尋找標(biāo)準(zhǔn)板級跌落替代性試驗來對比和評價焊點的沖擊性能。在諸多替代性實驗中,相比而言,動態(tài)四點彎曲方法實驗設(shè)備簡單且可操作性強(qiáng),焊點的力學(xué)行為也最接近JEDEC推薦的測試方法。 動態(tài)四點彎曲試驗裝置示意圖如圖2-2所示,整個實驗裝置包括跌落重物、加載支架、PCB組件、封裝體、橡膠、支撐支架和固定支座等。,二、論文重要理論基礎(chǔ),二、論文重要理論基礎(chǔ),2、子結(jié)構(gòu)方法理論 子結(jié)構(gòu)技術(shù)是有限元法的一種高級分析技術(shù),子結(jié)構(gòu)法就是將一組單元用矩陣凝聚為一個單元的過程。其基本思想是,遵循某些原則要求,將一個大型結(jié)構(gòu)分解成一些規(guī)模較小的部分——子結(jié)構(gòu),然后對每個子結(jié)構(gòu)進(jìn)行降階。再將降階后的子結(jié)構(gòu)按照邊界連接條件組裝成原來的大結(jié)構(gòu),從而達(dá)到降低問題運算規(guī)模,節(jié)省計算時間的作用,子結(jié)構(gòu)法為分析這樣的大型問題提供可能。,子結(jié)構(gòu)法在ANSYS中的分析步驟: 1)生成部分:將普通的有限元單元凝聚為一個超單元的過程。凝聚是通過定義一組主自由度來實現(xiàn)的。 2)使用部分:將超單元與非超單元部分組集進(jìn)行分析的過程。 3)擴(kuò)展部分:從使用部分的凝聚解計算出整個超單元的完整解(即超單元部分內(nèi)部所有節(jié)點的解)。 整個子結(jié)構(gòu)分析過程的數(shù)據(jù)流程和所用的文件如圖2-3所示。,二、論文重要理論基礎(chǔ),,圖2-3 子結(jié)構(gòu)分析過程的數(shù)據(jù)流程,二、論文重要理論基礎(chǔ),三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,1、有限元建模仿真: 標(biāo)準(zhǔn)跌落測試實驗中發(fā)現(xiàn)U2,U3,U8位置PoP處于危險區(qū)域[23],因此論文考察這幾個位置的PoP焊點可靠性?;贘ESD22-B111標(biāo)準(zhǔn),建立標(biāo)準(zhǔn)板級PoP跌落實驗有限元模型。PoP在PCB上的布局如圖3-1所示。 論文選用自頂向下的建模方法。子結(jié)構(gòu)法板級PoP有限元模型如圖3-2所示。其中焊點簡化為四方體,仿真結(jié)果雖然不能數(shù)值精確,但是獲得的跌落過程焊點應(yīng)力動態(tài)響應(yīng)跟精細(xì)模型應(yīng)力變化趨勢是一致的。因此焊球簡化合理。,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,圖3-2 有限元模型,圖3-1 PoP在PCB上布局,,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,2、子結(jié)構(gòu)法板級PoP跌落分析過程 子結(jié)構(gòu)法板級PoP跌落全局分析過程如圖3-3所示。首先建立板級PoP跌落有限元模型,這一部分同常規(guī)有限元法相同,然后逐個對U13,U14,U8分別進(jìn)行跌落仿真分析,依次得到PCB上各位置PoP焊點跌落動態(tài)響應(yīng),即要得到整個板級PoP跌落動態(tài)響應(yīng)需要進(jìn)行三次子結(jié)構(gòu)分析。,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,圖3-3 板級PoP組件跌落分析子結(jié)構(gòu)計算過程,以U8子結(jié)構(gòu)分析分析為例,說明子結(jié)構(gòu)法板級PoP跌落沖擊分析在ANSYS中實現(xiàn)過程,具體的步驟如下: 1、生成部分:U8以外所有單元作為子結(jié)構(gòu)用于生成超單元。2、使用部分:將非超單元部分與超單元部分組合進(jìn)行跌落分析求解,使用部分模型如圖3-4所示。3、擴(kuò)展部分:從使用部分的超單元V8的凝聚解中計算出整個超單元完整解。,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,圖3-4 U8子結(jié)構(gòu)分析的使用部分計算模型,超單元,,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,3、仿真結(jié)果及分析: 1)PCB動態(tài)跌落特性研究 整個PCB的沖擊過程分為兩個階段,第一階段為 PCB 承受半正弦波沖擊階段,第二階段為沖擊載荷消失的自由振動階段。,,對PCB最大彎曲變形時刻擴(kuò)展,查看整個PCB最大彎曲形變,如圖3-5a所示。對應(yīng)的圖3-5b是牛曉燕[42]仿真結(jié)果。由圖可知,本文仿真結(jié)果和牛曉燕的研究成果具有良好的一致性,從一方面驗證了本文所建模型的正確性。,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,(a) 本論文仿真結(jié)果,(b) 牛曉燕仿真結(jié)果,圖3-5 PCB最大彎曲變形圖,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,2)焊點應(yīng)力分析: 大量的研究表明[47],板級組件的跌落沖擊試驗中,焊點的失效模式主要以剝離為主,應(yīng)以最大剝離應(yīng)力作為跌落沖擊時焊點的失效準(zhǔn)則,所以,本文應(yīng)用剝離應(yīng)力即垂直于PCB 方向上的法向應(yīng)力SZ來評價焊點在跌落沖擊中的可靠性。 對U8進(jìn)行子結(jié)構(gòu)跌落仿真分析,得到U8內(nèi)部所以節(jié)點解。圖3-6,3-7分別為U8處PoP上下層焊點應(yīng)力最大時刻應(yīng)力分布云圖。,有圖可知,頂層封裝和底層封裝最大應(yīng)力都位于封裝體對角線上距離封裝體中心最遠(yuǎn)位置(DNP)的焊點上。,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,圖3-6底層焊點應(yīng)力最大時刻應(yīng)力分布,圖3-7頂層焊點應(yīng)力最大時刻應(yīng)力分布,如圖3-8所示底層和頂層應(yīng)力最大應(yīng)力節(jié)點跌落沖擊過程中的動態(tài)應(yīng)力曲線。從圖可以看出,焊點應(yīng)力隨時間變化而變化,底層封裝焊點應(yīng)力遠(yuǎn)大于頂層封裝焊點最大應(yīng)力,說明U8底層DNP焊點為整個PoP關(guān)鍵焊點。,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,圖3-8 跌落沖擊過程中的動態(tài)應(yīng)力曲線,。圖3-9和圖3-10分別給出了U14和U13底層焊點應(yīng)力最大時刻焊點分布云圖,由圖可以看出,無論是U13還是U14,最外層陣列角落焊點都遭受跌落沖擊載荷過程中較大的應(yīng)力。,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,圖3-9 U14焊點最大應(yīng)力云圖,圖3-10 U13焊點最大應(yīng)力云圖,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,比較U8、U14、U13的跌落沖擊受力情況可知,U8焊點最大應(yīng)力為382MPa,U13焊點最大應(yīng)力為318MPa,U14焊點最大應(yīng)力336MPa,并且U8應(yīng)力峰值和PCB板的變形峰值在時間上具有同步性,綜合以上仿真結(jié)果,因此得出結(jié)論:在跌落沖擊中,PCB上最容易引起元件失效的位置是PCB中心變形最大的區(qū)域,U8底層DNP焊點是整個PCB關(guān)鍵焊點,該仿真結(jié)果與DongKil Shin[23]所做實驗結(jié)果一致。,3)仿真結(jié)果比較 為進(jìn)一步驗證子結(jié)構(gòu)跌落仿真分析計算結(jié)果的準(zhǔn)確性,比較常規(guī)有限元法與子結(jié)構(gòu)方法仿真結(jié)果。以U1關(guān)鍵焊點最大應(yīng)力為比較對象。 表3-1給出了U8子結(jié)構(gòu)方法與整體有限元方法仿真結(jié)果一些基本信息。,三、基于子結(jié)構(gòu)法整體模型跌落分析,表3-1子結(jié)構(gòu)方法與常規(guī)有限元方法仿真結(jié)果對比,1、考慮應(yīng)變率的本構(gòu)模型 ANSYS中可采用二種材料選項,即在Perzyna模型和Peirce模型中引入應(yīng)變率效應(yīng),來模擬材料的時間相關(guān)響應(yīng)。論文焊點材料采用Peirce本構(gòu)方程材料模型,以描述焊點在高沖擊載荷下的應(yīng)變率特性。Peirce本構(gòu)方程其基本形式為: 其中, 為屈服應(yīng)力, 為等效塑性應(yīng)變率, 應(yīng)變率強(qiáng)化參數(shù),r為粘塑性材料參數(shù)。,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,2、有限元模型 在跌落沖擊中,PCB中心U8所受應(yīng)力最大,U8焊點可靠性是整個PCB可靠性的決定性因素。因此以下將以貼裝在PCB中心的PoP為研究對象,研究考慮了焊點應(yīng)變率效應(yīng)的PoP跌落沖擊性能。出于運算規(guī)模的考慮,對U8處焊點進(jìn)行了細(xì)化,以對焊點進(jìn)行徹底研究,其他區(qū)域的封裝體視作等效質(zhì)量的一塊實體[50]。,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,板級PoP組件跌落有限元模型及局部模型如圖4-1所示。,圖4-1 有限元模型,,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,本部分子結(jié)構(gòu)計算過程如前所述子結(jié)構(gòu)計算過程相同,在生成部分將U8以外部分生成超單元,使用部分組裝U8內(nèi)部單元和超單元進(jìn)行求解。使用部分子結(jié)構(gòu)計算模型如圖4-2所示。,圖4-2 子結(jié)構(gòu)使用部分計算模型,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,3、仿真結(jié)果分析 圖4-3所示為焊點應(yīng)力最大時刻應(yīng)力分布云圖,同前面分析結(jié)果一樣,當(dāng)考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)時,其最大應(yīng)力位于PoP底層DNP焊點(距離器件中心最遠(yuǎn)焊點)上。,圖4-3 焊點應(yīng)力最大時刻應(yīng)力分布云,對單個焊點進(jìn)行分析,取最容易失效焊點為分析對象,比較Peirce材料本構(gòu)方程和線彈性材料模型焊點在跌落沖擊下的動態(tài)響應(yīng)。圖4-4給出了兩種材料模型最大應(yīng)力與時間關(guān)系曲線。,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,圖4-4 兩種材料模型最大應(yīng)力與時間關(guān)系曲線,由圖可知,在高速跌落沖擊載荷下,是否計入應(yīng)變率效應(yīng)對計算結(jié)果影響顯著,采用Peirce模型和采用線彈性材料模型得到的焊點最大剝離應(yīng)力明顯不同。當(dāng)考慮應(yīng)變率效應(yīng)時,焊球的應(yīng)力從605MPa 減小到295MPa。因此,在數(shù)值模擬時應(yīng)變率效應(yīng)是不能忽略的,當(dāng)焊點采用應(yīng)變率效應(yīng)材料時,焊點應(yīng)力低于采用焊點彈性材料應(yīng)力,說明按線彈性模型模擬焊料的力學(xué)性能時,將使仿真過程的焊點應(yīng)力值高于實際跌落時焊點應(yīng)力值。,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,如圖4-5所示為PoP底層和頂層DNP焊點應(yīng)力分布云圖,以及與之對應(yīng)的Jing-en Luan[20]所做PoP跌落測試試驗焊點失效模式圖。,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,圖4-5 焊點應(yīng)力分布云圖及 對應(yīng)實驗焊點失效模式,由圖可知, PoP焊點應(yīng)力集中位置與焊點失效發(fā)生位置相同,底部焊點最大應(yīng)力出現(xiàn)在PCB/焊點一側(cè),焊點/封裝一側(cè)應(yīng)力相對小;頂層焊點兩端界面都出現(xiàn)應(yīng)力集中,其中靠近上層封裝基板處應(yīng)力較大。,4、PoP焊點跌落性能影響因素分析 對不同的元器件設(shè)計和PCB設(shè)計時,焊球高度、焊球直徑、焊盤尺寸等是不相同的,即使在同批次產(chǎn)品中,受焊點均勻度、錫膏印刷工藝以及熱應(yīng)力等各種因素影響,焊球直徑和焊球高度也不盡相同。因此,研究以上參數(shù)對焊點跌落性能的影響很有必要。由于底層焊點所受應(yīng)力要遠(yuǎn)大于頂層焊點所受應(yīng)力,且最危險焊點位置位于底層焊點。因而各因素對PoP焊點跌落沖擊性能的影響,以底層焊點最大應(yīng)力為評價指標(biāo)。,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,1)PCB厚度的影響 圖4-6為不同厚度PCB對應(yīng)的關(guān)鍵焊點最大應(yīng)力曲線。由圖可知,焊點最大應(yīng)力隨著PCB厚度的增加而減小。分析認(rèn)為,這是因為PCB厚度的增加提高了PCB的剛度,使其在振動過程中抗變形能力增加。,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,圖4-6 不同厚度PCB對應(yīng)最大應(yīng)力響應(yīng)曲線,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,2)焊點直徑與高度的影響 圖4-7所示為跌落沖擊環(huán)境下,焊點直徑與最大應(yīng)力關(guān)系曲線。分析過程保持焊點陣列、焊點中心距、加載條件等其他條件不變。,圖4-7 直徑與焊點最大應(yīng)力關(guān)系曲線,,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,圖4-8所示為焊點應(yīng)力隨焊點高度變化的關(guān)系曲線圖,仿真過程中,焊點直徑保持0.35mm不變。,圖4-8 焊點高度與最大應(yīng)力關(guān)系曲線,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,3)頂層DNP焊點影響分析 底層和頂層封裝體之間應(yīng)力通過焊點傳遞,頂層焊點最大應(yīng)力位于DNP焊點上,因此可以通過移除頂層DNP焊點,來分析研究頂層DNP焊球?qū)更c跌落抗沖擊性能的影響。當(dāng)移除頂層DNP焊球后,頂層焊點與底層焊點最大應(yīng)力分布云圖如圖4-9所示。,圖4-9上層焊點與底層焊點應(yīng)力最大時刻焊點應(yīng)力分布云圖,四、考慮焊點應(yīng)變率效應(yīng)板級PoP跌落分析,由圖看出,整個PoP焊點最大應(yīng)力仍然處于底層封裝外側(cè)焊點拐角處,并且靠近PCB一側(cè),頂層封裝焊點最大應(yīng)力出現(xiàn)在,與拐角焊點相鄰焊點上。底層焊點最大應(yīng)力為271MPa,減少了16%,上層焊球最大應(yīng)力為195MPa,增大了30%。雖然頂層焊點應(yīng)力增大了,底層焊點應(yīng)力仍然大于頂層焊點應(yīng)力,底層焊點拐角處焊點仍然是整個PoP關(guān)鍵焊點,因而刪除頂層封裝關(guān)鍵焊點可改善PoP抗跌落沖擊整體性能。該設(shè)想只是考慮其對跌落過程中焊點應(yīng)力大小的影響,其正確性有待進(jìn)一步的實驗驗證。,1、仿真模型 動態(tài)四點彎曲整體與局部有限元模型如圖5-1所示,整個模型包括跌落重物、加載支架、PCB組件、封裝體、橡膠、支撐支架和固定支座等。出于計算規(guī)模與時間的考慮,仿真模型中封裝焊點陣列用焊層代替。,五、動態(tài)四點彎曲試驗仿真,圖5-1 四點彎曲實驗有限元模型,,五、動態(tài)四點彎曲試驗仿真,3、仿真結(jié)果分析 1)PCB動態(tài)響應(yīng)分析 PCB的彎曲變形對于評估焊點可靠性是非常重要的。有必要對PCB動態(tài)響應(yīng)進(jìn)行分析。圖5-2是四點彎曲試驗仿真PCB最大彎曲變形圖。,圖5-2 PCB最大彎曲變形,,五、動態(tài)四點彎曲試驗仿真,圖5-3是PCB撓度時間歷程曲線圖。由圖可知,在動態(tài)四點彎曲試驗中,PCB中心位置的撓度最大,是最容易引起元器件失效的位置,在承受鋼球跌落沖擊過程中,呈上下彎曲變形,當(dāng)撓度在3.5ms左右時刻達(dá)到最大值后其振幅逐漸減小,這一結(jié)構(gòu)與金玲[26]研究成果相符合,驗證了模型的正確性。,圖5-3 PCB撓度曲線,五、動態(tài)四點彎曲試驗仿真,2)焊層應(yīng)力分析 圖5-4為動態(tài)四點彎曲試驗過程中,PoP底層和頂層封裝應(yīng)力最大時刻的焊層剝離應(yīng)力云圖。圖5-5為應(yīng)力最大時刻的標(biāo)準(zhǔn)跌落測試試驗焊層剝離應(yīng)力云圖。,五、動態(tài)四點彎曲試驗仿真,從圖5-4中可以得出,PoP動態(tài)四點彎曲實驗中,底層封裝焊層最大剝離應(yīng)力大于頂層封裝應(yīng)力,底層封裝焊層最大應(yīng)力位于距離封裝體中心最遠(yuǎn)端靠近PCB一側(cè),頂層封裝焊層最大應(yīng)力位于距離封裝體中心最遠(yuǎn)端靠近頂層基板一側(cè),底層焊層最大應(yīng)力是整個PCB組件最大應(yīng)力。 比較圖5-4與5-5,從圖中可以得出,兩種試驗最大剝離應(yīng)力都位于底層焊層距離封裝體中心最遠(yuǎn)端靠近PCB一側(cè)位置,底層焊層和頂層焊層最大應(yīng)力出現(xiàn)位置相同。,五、動態(tài)四點彎曲試驗仿真,另外考慮到BGA焊球在跌落試驗和動態(tài)四點彎曲試驗中的失效模式完全一致,并且其失效機(jī)理也完全相同,論文初步推論:對于初步評價PoP焊點跌落可靠性,動態(tài)四點彎曲試驗不失為代替JEDEC 推薦的測試方法的簡單快捷的方法。 由于仿真過程中,將焊點處理成焊層,只能得到焊點應(yīng)力大致分布,除了角落焊點外其他焊點應(yīng)力分布情況不清楚,且仿真結(jié)果沒有實驗驗證,因此該結(jié)論還有待進(jìn)一步求證。,六、總結(jié)與展望,1、主要研究成果與結(jié)論: 1) 將子結(jié)構(gòu)方法運用到POP跌落分析中,證明了子結(jié)構(gòu)法在跌落分析中的可行性和合理性,為開展焊點跌落可靠性研究找到了一條便利而實用的途徑。 2)建立了標(biāo)準(zhǔn)板級PoP跌落分析三維有限元模型,得到了PCB板上不同位置的封裝的受力情況,并確定了關(guān)鍵焊點的位置。 3) 仿真分析時考慮了焊點的應(yīng)變率效應(yīng),能更真實的反映焊點受力情況。,六、總結(jié)與展望,4)考察了焊點高度,焊點直徑等因素對PoP焊點跌落可靠性的影響。 5)探討了動態(tài)四點彎曲試驗代替標(biāo)準(zhǔn)板級跌落試驗評價PoP可靠性的可行性。發(fā)現(xiàn)兩種實驗PCB動態(tài)響應(yīng)有相似過程,焊點最大應(yīng)力出現(xiàn)位置相同。初步驗證了動態(tài)四點彎曲實驗可以作為評價PoP焊點跌落可靠性可靠性的實驗。,六、總結(jié)與展望,2、展望 1)可以研究基于塑性應(yīng)變的焊點跌落失效預(yù)測方法,建立完整的焊點跌落壽命的預(yù)測評估體系。 2)設(shè)計PoP跌落動態(tài)四點彎曲實驗,進(jìn)一步研究動態(tài)四點彎曲實驗代替JEDEC推薦測試實驗的可行性。 3)焊點在跌落沖擊失效前,要經(jīng)歷熱周期載荷,因此可以研究在熱周期和跌落沖擊順序載荷下焊點的可靠性。,創(chuàng)新點: 1、 將子結(jié)構(gòu)方法應(yīng)用到板級PoP跌落分析中,降低了板級PoP跌落分析運算規(guī)模,節(jié)省了計算時間的作用,為開展焊點跌落可靠性研究找到了一條便利而實用的途徑。 研究成果: 1、 第一作者在2012國際封裝會議Icept2011上發(fā)表論文一篇。(EI收錄號:20114714539933),七、致謝,,感謝大家 敬請各位老師 批評指正,- 1.請仔細(xì)閱讀文檔,確保文檔完整性,對于不預(yù)覽、不比對內(nèi)容而直接下載帶來的問題本站不予受理。
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- 基于 結(jié)構(gòu) PoP 跌落 沖擊 可靠性分析 研究
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