第 二 章 測(cè)試裝置的基本特性 第一節(jié) 概述 第二節(jié) 測(cè)量裝置的靜態(tài)特性 第三節(jié) 測(cè)量裝置的動(dòng)態(tài)特性 第四節(jié) 測(cè)量裝置對(duì)任意輸入的響應(yīng) 第五節(jié) 實(shí)現(xiàn)不失真測(cè)量的條件 第六節(jié) 測(cè)量裝置動(dòng)態(tài)特性的測(cè)量 第七節(jié) 負(fù)載效應(yīng) 第八節(jié) 測(cè)量裝置的抗干擾。被測(cè)信號(hào)、測(cè)試系統(tǒng)、輸出信號(hào)的關(guān)系。第二章 機(jī)械測(cè)試信號(hào)分析。
混合IC測(cè)試技術(shù)-第二章Tag內(nèi)容描述:
1、集成電路測(cè)試系統(tǒng)集成電路測(cè)試系統(tǒng)集成電路測(cè)試系統(tǒng)原理ATEDUT電源電源通道通道IODPSPindriver驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)輸入比較器輸入比較器PMUADCDAC模擬信號(hào)輸入模擬信號(hào)輸入模擬信號(hào)輸入模擬信號(hào)輸入2.1 連接性測(cè)試和漏電流測(cè)試連接性測(cè)。
2、 現(xiàn) 代 測(cè) 試 技 術(shù) 第 2章測(cè) 量 誤 差及 其 分 析 測(cè)量誤差的基本概念;系統(tǒng)誤差的消除;隨機(jī)誤差的處理;粗大誤差的剔除;測(cè)量結(jié)果的估計(jì);測(cè)量結(jié)果的表示;微小誤差準(zhǔn)則與對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)的選取本章主要內(nèi)容 2.1測(cè) 量 誤 差 基 本 概 。
3、第 二 章 控 制 系 統(tǒng) 的 動(dòng) 態(tài) 數(shù) 學(xué) 模 型 21 微 分 方 程 及 其 線 性 近 似 22 拉 普 拉 斯 變 換 及 反 變 換 23 傳 遞 函 數(shù) 24 系 統(tǒng) 方 框 圖 25 系 統(tǒng) 方 框 圖 的 等 效 變 換。
4、第 二 章 測(cè)試裝置的基本特性 第一節(jié) 概述 第二節(jié) 測(cè)量裝置的靜態(tài)特性 第三節(jié) 測(cè)量裝置的動(dòng)態(tài)特性 第四節(jié) 測(cè)量裝置對(duì)任意輸入的響應(yīng) 第五節(jié) 實(shí)現(xiàn)不失真測(cè)量的條件 第六節(jié) 測(cè)量裝置動(dòng)態(tài)特性的測(cè)量 第七節(jié) 負(fù)載效應(yīng) 第八節(jié) 測(cè)量裝置的抗干擾,解決問(wèn)題,1。被測(cè)信號(hào)、測(cè)試系統(tǒng)、輸出信號(hào)的關(guān)系。 2。測(cè)試系統(tǒng)對(duì)信息的影響。 3。如何準(zhǔn)確地、完整地獲取被測(cè)信息? 4。如何得到裝置的特性?,第一節(jié) 概述,。
5、 第 2章 智 能 儀 器 基 本 系 統(tǒng) 的 設(shè) 計(jì)西 安 電 子 科 技 大 學(xué) 機(jī) 電 工 程 學(xué) 院測(cè) 控 工 程 與 儀 器 系 賀 華 第 2章 智 能 儀 器 基 本 系 統(tǒng) 的 設(shè) 計(jì) 自 動(dòng) 測(cè) 試 技 術(shù) 第 2章 智 。
6、1 某 函 數(shù) 付 氏 變 換 為 j tX x t e dt 當(dāng) 某 函 數(shù) 付 氏 變 換 不 存 在 時(shí) , 通 常 由 于 t 時(shí) ,xt幅 度 不 衰 減 , 積 分 不 收 斂 。 為 此 , 用 因 子 e t 為 常 數(shù) 乘。
7、,自動(dòng)測(cè)試技術(shù),西安電子科技大學(xué)機(jī)電工程學(xué)院,測(cè)控工程與儀器系 賀華,第2章,自動(dòng)測(cè)試技術(shù),智能儀器基本系統(tǒng)的設(shè)計(jì),引言,單片機(jī)是現(xiàn)代自動(dòng)化測(cè)控儀器儀表的核心部件,用單片機(jī)組成的儀器儀表不但可以用軟件實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)儀器儀表中許多硬件測(cè)量電路的功能,而且還可以用軟件對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步的整理、運(yùn)算、加工或推演,獲得傳統(tǒng)儀器難于測(cè)量或者根本無(wú)法測(cè)量到的數(shù)據(jù)和深層結(jié)果。從這個(gè)意義上,人們將用微處理器或單片機(jī)構(gòu)。
8、2020年8月5日9時(shí)22分,哈爾濱商業(yè)大學(xué)輕工學(xué)院,機(jī)械工程測(cè)試技術(shù),主講教師:谷吉海,2020年8月5日9時(shí)22分,哈爾濱商業(yè)大學(xué)輕工學(xué)院,本章主要內(nèi)容 2.1 概述 2.2 測(cè)試裝置的靜態(tài)特性 2.3 測(cè)試裝置的動(dòng)態(tài)特性 2.4 測(cè)試裝置對(duì)典型輸入的響應(yīng) 2.5 實(shí)現(xiàn)不失真測(cè)試的條件 2.6 負(fù)載效應(yīng),第二章 測(cè)試裝置的基本特性,2020年8月5日9時(shí)22分,哈爾濱商業(yè)大學(xué)輕工學(xué)院,本節(jié)主要。
9、1 第二章 測(cè)試系統(tǒng) 2 2-1.測(cè)試系統(tǒng)的組成 測(cè)量結(jié)果 3 檢測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成 信息獲取 轉(zhuǎn)換 顯示和處理 (信號(hào)檢出部分) (信號(hào)變換部分) (分析處理部分、 通信接口及總線) 4 2-2. 測(cè)試裝置的主要性能指標(biāo) 一、測(cè)試系統(tǒng)靜態(tài)響應(yīng)特性 1、靜態(tài)特性: 常量 /緩慢變化的輸入情況下的輸出特性。 測(cè)量 時(shí),測(cè)試裝置的輸入、輸出信號(hào)不隨時(shí)間而變化,則稱 為靜態(tài)測(cè)量。 靜態(tài)測(cè)量時(shí),測(cè)試裝置表現(xiàn)出。
10、二 測(cè) 試 技 術(shù) 基 礎(chǔ) 知 識(shí) u測(cè) 試 將 被 測(cè) 試 值 與 同 種 性 質(zhì) 的 標(biāo) 準(zhǔn) 量 進(jìn) 行 比 較 , 確 定 被測(cè) 試 值 對(duì) 標(biāo) 準(zhǔn) 量 的 倍 數(shù)u測(cè) 試 系 統(tǒng) 傳 感 器 與 測(cè) 試 儀 表 變 換 裝 置 等 。
11、第二章 機(jī)械測(cè)試信號(hào)分析,本章內(nèi)容:,1.信號(hào)的分類 2.信號(hào)的描述與分析 3.信號(hào)的頻譜分析,第二章 機(jī)械測(cè)試信號(hào)分析與處理,2.1 信號(hào)的分類,在介紹信號(hào)分類前,先建立信號(hào)波形的概念。,信號(hào)波形:被測(cè)信號(hào)信號(hào)幅度隨時(shí)間等的變化歷程稱為信號(hào)的波形。,2.1 信號(hào)的分類,信號(hào)波形圖:用被測(cè)物理量的強(qiáng)度A作為縱坐標(biāo),用時(shí)間等物理量做橫坐標(biāo),記錄被測(cè)物理量隨時(shí)間等物理量的變化情況。,2.1 信號(hào)的。
12、中 國(guó) 礦 業(yè) 大 學(xué) 機(jī) 電 學(xué) 院第 二 章 信 號(hào) 分 析 基 礎(chǔ)2.4 信 號(hào) 的 時(shí) 差 域 相 關(guān) 分 析 1 相 關(guān) 的 概 念 相 關(guān) 指 變 量 之 間 的 相 依 關(guān) 系 , 統(tǒng) 計(jì) 學(xué) 中 用 相 關(guān) 系 數(shù)來(lái) 描 述。